ADC/DAC测试系统
高性能模拟和混合信号测试解决方案
德思特ADC/DAC芯片测试系统是一套9槽ATE芯片测试平台,具有模块化、可扩展、专精数模/模数转换芯片测试等优势。该测试系统支持ADC/DCA线性动态测试,DIO同步时钟模块,可测8-24 bit ADC/DAC,采样频率高达400 MHz。
极高精度
低噪声
快速采样
支持丰富的测试项目
ADC线性测试
失调误差;缺码分析
增益误差;触发点
满量程误差
积分非线性误差
差分非线性误差
整体误差
DAC线性测试
失调误差
增益误差
满量程误差
积分非线性误差
差分非线性误差
整体误差
ADC直方图测试
积分非线性误差
差分非线性误差
整体误差
触发点
缺码分析
动态测试
信噪失真比
实际有效位数
信噪比
总谐波失真
无杂散动态范围
峰值失真
ADC/DAC测试系统产品特点
TS-ATX7006A是一个完全集成的解决方案,用于测试ADC,DAC和其他模拟功能。它结合了非常高的精度,低噪声和快速采样、易用性等诸多优势。传统上,数模转换芯片是使用一整套台式仪器、滤波器、开关矩阵和用户自定义软件进行测试。 ATX7006A是一款适用于所有数模转换芯片测试的单一仪器。这意味着您可以专注于ADC/DAC测试转换器,而不是微调测试设置。
- 完全集成的ADC/DAC芯片测试平台
- 定制化测试解决方案
- AWG采样率高达400 MHz
- 无与伦比的信号质量和精度
- 广泛的测试项目支持
- 灵活的通用数字IO模块
- 自带分析软件,提供多种视图
- 允许自定义的测试脚本
ADC/DAC测试系统配套软件ATView
TS-ATX7006A配有ATView,这是一个软件包,用于配置,编程和控制TS-ATX7006A并分析测试结果。
- 项目工程
- 测试分析
- 适用于Windows PC
- 显示时域、频域和直方图测试的结果
设置测试只需要在仪表板上填写字段,如果适用的话,编程一个数字模式,然后按下START按钮。在测试后,结果在WaveAnalyzer中查看。WaveAnalyzer可以显示时域、频域和直方图测试的结果。缩放、堆栈和光标功能在任何级别都可用。保存测试结果,包括所有设置。测试结果和测试条件都以XML格式存储,允许用户进一步处理。导出文件格式可以是CSV格式,同时也可以是图片,方便导入到报告中。
灵活可配置的内部模块
数字化仪TS-WFD系列可选
型号 | 类别 | 分辨率 | 采样率 |
---|---|---|---|
TS-WFD16 | 数字化仪模块 | 16位 | 180Msps |
TS-WFD20 | 数字化仪模块 | 20位 | 2Msps |
TS-WFD22 | 数字化仪模块 | 22位 | 1Msps |
任意波形发生器TS-AWG系列可选
型号 | 类别 | 分辨率 | 更新速率 |
---|---|---|---|
TS-AWG16 | 任意波形发生器模块 | 16位 | 400Msps |
TS-AWG18 | 任意波形发生器模块 | 18位 | 300Msps |
TS-AWG20 | 任意波形发生器模块 | 20位 | 2Msps |
TS-AWG22 | 任意波形发生器模块 | 22位 | 2Msps |
其他可选模块
型号 | 类别 | 特性 |
---|---|---|
TS-DRS20 | 参考源模块 | 支持±10 V-10 mA双通道参考源输出 |
TS-DPS16 | 电源模块 | 支持±12 V-200 mA双通道参考源输出 |
TS-DIOII | 数字IO模块 | 支持20/24路data bits位,8路pattern bits,时钟源 |
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虹科集团旗下子公司德思特是电子测试测量领域内领先的解决方案供应商。主要业务范围涵盖:汽车电子仿真及测试、射频微波及无线通信测试、无线频谱监测与规划、无线通信(包括智能网联汽车无线通信、轨道交通、卫星通信、室内无线通信)、半导体测试、PNT解决方案、大物理和光电测试等。 我们围绕汽车电子、射频微波、通信、航空航天等行业提供专业可靠的解决方案,现有客户包括华为、德赛西威、蔚来汽车、理想汽车、航天科工集团、清华大学、北京航空航天大学、中电科集团等。我们是中国无线电协会、中国通信企业协会、雷达行业协会、RIS智能超表面技术协会等行业协会的会员,致力与客户共同发展,促进产业升级。
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