Product Overview
任意波形发生器 AWG 家族
德思特 AWG 产品覆盖台式高性能仪器与模块化板卡/台式网络化设备。
用户可根据采样率、分辨率、接口形态、通道规模、同步能力与自动化集成方式进行选型。
Why Tesight AWG
为什么选择德思特任意波形发生器
从高精度波形生成、多通道同步，到开放集成和应用支持，
覆盖复杂信号生成从研发验证到系统部署的主要需求。
01
高性能规格
最高17GS/s采样率、最高16bit分辨率，满足量子通信、光电等前沿测试对精度和速度的严格要求。
02
多模式信号输出
支持任意波、函数、数字码型、串行模式及复杂调制信号，减少多设备切换成本。
03
多通道同步扩展
支持多设备级联与星形集线器同步，可扩展至 64 个同步通道，适合复杂阵列和多物理量控制。
04
高速数据吞吐
PCIe x8链路，支持高带宽数据传输，适合高速信号处理、长序列回放与自动化测试。
05
开放软件与SDK
提供上位机软件与二次开发接口，便于集成Python、C++、LabVIEW等平台，实现自动控制。
06
应用级技术支持
围绕选型、培训、校准、集成和二次开发提供支持，降低复杂测试方案落地难度。
Applications & Solutions
应用场景 / 解决方案
面向需要精确波形、低时序误差、多通道同步和可重复控制的应用场景。
量子通信与大物理
用于量子态操控、AOM/AOD 驱动、量子密钥分发、大型物理实验和多通道同步激励。
量子计算
QKD
AOM/AOD
REMPI
光电与高速调制
生成复杂激光调制、干涉信号、脉冲序列与高频捷变信号，支持光电器件研发验证。
EOM驱动
脉冲激光
AOM/AOD
量子光学
半导体与通信测试
为 ADC/DAC、芯片表征、雷达脉冲、射频通信和复杂环境信号模拟提供高精度激励源。
ADC/DAC
雷达脉冲
射频测试
产线集成
Applications in the AI Industry Chain
AI 时代的尖端测试测量基础设施
随着大模型与算力爆发，AI 芯片架构、硅光高速互连及高性能存储迎来颠覆性跨越。德思特利用高性能、多通道同步AWG 技术，为泛 AI 产业链提供高确定性的信号激励解决方案。
AI芯片与高级封装测试
- Die-to-Die 互连验证：多通道同步 AWG 阵列可为高速 AI芯片测试、Chiplet测试 提供高密度并行同步仿真激励，精准评估 Die-to-Die测试 的信号边界。
- 高速总线物理层分析：轻松生成高精度的 PAM4测试 信号与 PRBS测试 码型，模拟真实通道损伤，完美满足 SerDes测试、PCIe测试、CDR测试 及 DSP测试 的严苛校准要求。
- 数据转换器评估：高分辨率电压下发，确保高频 ADC/DAC测试 的高动态范围评估。
AI光互连与硅光技术应用
- 硅光在片降速测试：专有 光波块降速测试信号源(降速测试信号源），解决高频硅光芯片测试中探针高带宽受限难题，实现平稳参数降速评估。
- 相干光复合调制：作为先进的 光芯片测试信号源 与 光模块测试 核心，多通道同源相位同步精度优于50ps，直接生成高保真射频脉冲，完成复杂 IQ调制测试 和 相干光测试。
- 光器件高频控制：精准控制电信号脉冲，全面覆盖 光器件测试、VCSEL测试、TOSA/ROSA测试，高效捕获 光眼图测试、光电响应测试 及 光开关测试。
AI存储与高速总线测试
- 高带宽吞吐量仿真：针对大模型算力标配存储，德思特高并行度硬件提供长时基下的高吞吐率信号下发，强力赋能HBM测试 与高速DDR测试。
- 全面覆盖存储器物理层：为通用 存储器测试 提供纳秒级沿可调的多总线电磁干扰串扰仿真，确保时序逻辑的绝对精确。
- 新型存储前沿驱动：支持输出高达 5Vpp 且高重复性的复杂高速序列脉冲，适配 MRAM测试 等 新型存储测试，可作为卓越的 Q开关驱动信号源 使用。
Selection Guide
产品快速选型
德思特提供Active Technology 与 Spectrum Instrumention 多种型号任意波形发生器
台式任意波形发生器
Spectrum PXIe/PXIe/LXI任意波形发生器
Resources
资源中心
围绕 DDS、量子、光电、大物理和复杂信号生成，提供白皮书、文章、视频课程和技术服务入口。
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