近场测试非常适合产品开发阶段辐射发射的EMI预兼容测试。在EMC测试中，进行辐射发射测试时，通常天线离被测物EUT很远，进行的都是远场测量。标准的远场辐射发射测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的EMC/EMI标准。

而当设备不符合标准时，工程师无法靠远场测试发现严重的辐射问题到底是来自于设备壳体的缝隙，还是来自连接的电缆USB，LAN之类的通信接口，或PCB上某个元器件及线路。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。

在研发或者批量生产的时候，可以对照合格的产品的值，来测试其它的产品。通过EMI预兼容测试可以快速查找辐射源，大大减少产品的研发周期，减少往返实验室的时间和全钱，减少不必要的错误测试。极大节省时间和经济成本。

近场测试是一种相对量测试，这意味着它需要把被测器件的测试结果与基准器件的测试结果进行比较，以预测被测器件通过一致性测试的可能性。需要注意的是，比较近场测试结果与EMI标准测试极限是没有意义的，因为测试读数受许多因素的影响，包括探头位置和被测器件的形状等。