技术文章与方案
涵盖量子、光电、半导体、射频微波等应用前沿技术讨论。了解更多技术内容。
AI热潮下的测试革新:任意波形发生器如何应对复杂信号生成挑战
🗓 2026年6月28日
AI算力爆发倒逼多个行业测试升级。德思特任意波形发生器如何解决相位连续、频率匹配、多通道同步等难题?本文从光电、量子、半导体、射频与无线通信四大领域的真实挑战出发,解析AWG的核心技术与应用、。
传统电光梳解决方案升级:多通道AWG驱动级联调制,破解平坦度与稳定性难题
一、电光梳技术 光学频率梳(电光梳)凭借等间距、高相干、频率精准可控的多波长输出特性,已成为微波光子学、精密光谱检测、高速光通信多载波系统、激光测距与光学标定、精密相位测量等领域的核心基础光源。相较于锁模激光梳
德思特亮相 CIOE 2026|聚焦光电与量子测试,构建高性能信号测试解决方案
光电技术正在从传统光通信、光学检测,进一步向量子信息、超灵敏传感、精密光学、先进成像及半导体检测等方向延伸。与此同时,测试系统对信号源与采集设备的性能提出了更高要求:更高采样率、更快响应、更复杂的信号生成能力,
皮秒级边沿与高电压输出:脉冲发生器如何破解四大前沿领域测试痛点?
半导体器件特征尺寸持续微缩、雷达脉冲仿真精度要求陡升、大型物理实验同步窗口不断收窄——传统脉冲源“纳秒级边沿+有限幅度+单模式输出”的组合,已无法满足前沿测试对超快响应、高压驱动与灵活序列的刚性需求。很多工程师
脉冲测量技术在高K介质 MOSFET 电荷捕获表征中的应用
一、电荷捕获效应的测试挑战 随着半导体工艺不断演进,业界引入了高κ介质材料(如HfO₂)来替代传统的二氧化硅栅介质,以降低栅极漏电流。然而,这一创新带来了一个严重的副作用——电荷捕获效应。高κ介质 MOSFET
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重磅推荐
任意波形发生器&数字化仪应用白皮书
在量子计算、大物理和医疗成像领域,信号精度决定科研高度。本白皮书汇集清华、MIT、ETH等顶尖机构实战案例,展示德思特AWG与数字化仪如何实现飞秒级脉冲生成与微伏级信号捕获,助您攻克精密实验中的信号生成与采集难题。
热门产品
专为量子通信开发的AWG&DDS信号源
本白皮书介绍德思特专为AOM/AOD控制优化的AWG与DDS信号源,覆盖从625MS/s到10GS/s的多平台产品,重点展示多载波信号如何实现对光镊数量、位置与强度的独立实时调控,是量子科研人员搭建光路控制系统的实用参考。
新兴应用
任意波形发生器DDS模式应用白皮书
本白皮书详解德思特AWG的DDS技术原理,涵盖多音信号生成、频率/幅度斜率控制、触发响应优化等核心能力,并提供雷达脉冲、相控阵、正交调制等实战代码示例,助您在量子控制、通信测试中实现极简编程与极速响应。
视频演示与操作教程
通过直观视频了解任意波形发生器&DDS信号源、脉冲发生器等信号源硬件连接、软件操作与实际测试过程。查看更多视频内容
德思特信号生成与采集实战直播
射频通信、量子科技、光电控制、半导体测试等领域,共同底层需求是精准生成并完整采集信号。射频前端中,任意波形发生器确保波形循环相位连续;雷达跳频场景下,DDS信号源实现纳秒级相位连续切换;NVM与MEMS驱动需脉冲发生器提供皮秒级边沿高压输出;量子传感等研究中,高速数字化仪高采样率捕获GHz级瞬态信号。德思特将于6月17日至9月23日,每月一场,推出《信号生成与采集实战》系列直播,欢迎关注。
德思特高达10GS/s任意波形发生器板卡
63系列开箱
高达10GS/s采样率,DS到3.9G全频段覆盖!德思特Spectrum任意波形发生器卡63系列产品大开箱!PCIe和LXI移动版双选择,满足你的多样需求!
SBench6软件教程01-如何创建项目?
SBench6是功能强大、直观的交互式测量软件,在无需编程的情况下即可开始测量。如何在SBench6软件中创建项目?SBench6软件教程第一期欢迎大家了解!
量子研究DDS信号源解决方案
专为量子研究驱动AOM,AOD,EOM的DDS信号源解决方案,采样率高达10GS/s,带宽高达3.9GHz,是量子与光电测试中信号生成与测试设备的优质选择。
常见技术问题(FAQ)
解答关于AWG&DDS信号源、脉冲发生器选型、产品操作等常见疑问。欢迎联系德思特交流您的技术卡点。
AWG发生器输出通道间的同步精度是多少?
远程控制协议和接口形式是什么?
支持实时计算后输出下一段信号吗?如何缩短两段信号之间的输出间隔?
DDS core最小可调的频率是多少?
什么场景下使用SCAPP选件?
脉冲发生器的两个输出通道是否可以同步
德思特脉冲发生器生成脉冲数是否可调?
德思特任意波形发生器和脉冲发生器上升下降时间是否可调?
多脉冲模式是否能输出正负电压脉冲组合?
高压脉冲发生器的典型应用有哪些?
高压脉冲发生器的典型应用有:
- 脉冲激光二极管驱动器
- 半导体表征测试
- 地面穿透雷达(GPR) 测试
- UWB信号源和通信
- 非易失性存储单元特性测试
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