首页>>高性能任意波形发生器>>PCIe/PXIe/LXI AWG
PCIe/PXIe/LXI模块化
任意波形发生器
为自动化测试系统与大规模多通道实验提供高密度信号生成方案
- 量子通信：量子态操控所需的精确信号生成与皮秒级时序控制
- 光电测试：模拟复杂激光调制与干涉信号，驱动高速 AOM / AOD / EOM
- 半导体测试：多通道同步激励，聚焦表征、设计与测试中的信号生成难题
8/4/48
PCIe/PXIe/LXI最大通道数
10 GS/s
最大采样率
16 Bit
最大分辨率
8 GS
最大缓存深度
Why Tesight AWG?
为什么选择德思特 AWG
行业领先的数据吞吐能力
灵活的多功能接口配置
高精度时钟同步
智能信号嵌入与DDS选件
跨代兼容，软件资产不浪费
开放易用的软件生态
Form Factor
PCIe、PXIe、LXI三种形态可选
PCI Express
嵌入自研测试机箱与产线系统
- 最高 10 GS/s 采样率、16 bit 分辨率，单卡最多 8 个同步通道
- PCIe x16 Gen3 接口，流式传输速率行业领先；支持 SCAPP 从 CUDA GPU 直接传输
- 与 M2p / M4i 系列数字化仪卡内部同步，构成激励—采集一体化系统
- 多卡通过 Star-Hub 同步，扩展至 64 个完全同步通道
PXI Express
接入标准化 PXI 机箱
- 1 / 2 / 4 通道版本，采样率最高 1.25 GS/s、带宽 400 MHz
- 2 GSample 板载内存，可分片段重放不同波形序列
- PCI Express x4 Gen2 接口，配合优化驱动实现 >2.8 GB/s 持续传输
- 支持多卡同步，与 PXIe 数字化仪共机箱构成完整测试系统
LXI / Ethernet
独立机箱，以太网远程控制
不需要工控机插槽，通过以太网连接任意 PC 或笔记本即可使用；DN6 单台最高 48 通道同步输出，是多通道量子与阵列测试的最高密度方案。
- 采样率 40 MS/s – 10 GS/s，通道数 2 – 48 灵活配置
- 所有通道同时输出，每个通道独立 DAC 与放大器
- GBit 以太网接口，支持 LAN 远程控制与固定触发输出延迟
- 特别适用于物理实验、量子研究等需要高精度多通道同步的场景
Selection Guide
选择满足您需求的任意波形发生器
01
先定采样率与带宽
信号最高频率决定采样率下限（可用带宽约为采样率的 40%）。
- 200 MHz 以内选 96xx / 65xx；
- 400 MHz 级选 66xx；
- 2.5–3.9 GHz 级只有 63xx。
02
再定通道数与同步
量子操控、相控阵类应用优先看同步能力。
- 单卡最多 8 通道，LXI 机箱最高 48 通道；
- 跨卡跨机箱可以通过 Star-Hub 扩展至 64 通道完全同步。
03
最后定形态与缓存
缓存按最长单次播放时长 × 采样率估算，最高可升级至 8 GSample。
- 产线 / 自研机箱选 PCIe；
- 已有 PXI 机架选 PXIe
- 实验室多通道选 LXI 台
系列
采样率
分辨率
通道数
输出带宽
最大缓存
接口形态
65xx
66xx
96xx
63xx
40 / 80 / 125 MS/s
625 MS/s – 1.25 GS/s
625 MS/s
16 Bit
16 Bit
16 Bit
16 Bit
1 – 8（单卡）-最高 80
1 – 4（单卡）-最高 24
1 – 4（单卡）-最高 24
1 – 2（单卡）-最高 16
60 MHz
200 – 400 MHz
DDS DC – 200 MHz
2.5 – 3.9 GHz
512 MSample
2 GSample
5.12 亿 DDS 指令（每 4 通道）
8 GSample
PCIe / LXI
PCIe / PXIe / LXI
PCIe / PXIe / LXI
PCIe / LXI
Applications
AWG赋能行业复杂信号模拟
量子传感器应用
利用高速采样率和窄脉冲生成能力，输出高达5 Vpp 的电信号脉冲和窄至 130 ps 的高斯光脉冲，用于精准驱动电光调制器与操控 NV 中心等量子缺陷结构，解决了皮秒级时间控制与高频相位调制难题。
量子密钥分发应用
多通道同步输出和任意波形调制能力用于生成偏振、相位或时间编码所需的复杂调制信号。可灵活配置调制格式（如 BB84、Decoy 等），解决传统激光驱动器在精度、速率和相干性方面的限制。
大物理与粒子物理读出测试
为大型强子对撞机等大科学装置提供高时间精度的激励信号：以亚纳秒级边沿驱动探测器前端，配合多通道同步输出完成束流位置诊断、触发信号与核聚变实验数据的可靠激发与读出验证。
高速瞬态信号记录与生成
AWG 与高速数字化仪在同一套软件与触发体系下协同工作，构成“激励—采集”闭环：AWG 生成量子态操控脉冲序列，数字化仪同步捕获微弱响应信号，缩短实验搭建时间。
AOM / AOD / EOM 驱动
具备高速、任意波形输出能力，可精确生成用于驱动电光调制器（EOM）的微波或射频信号，实现光波的强度、相位或偏振调制，解决传统信号源频率带宽不足、波形灵活性差的问题。
NV 色心微波脉冲序列控制
在 NV 色心实验中精确控制微波脉冲序列以操控量子态，同时输出同步触发信号配合激光与探测系统，进行磁共振与荧光读出。多通道同步与皮秒级时序控制满足量子态操控的极高精度要求。
MEMS 传感器测试和验证
生成高速、精确控制的超声激励信号，驱动 MEMS 超声传感器进行动态响应测试。克服了传统测试源灵活性和频率范围受限的问题，帮助验证器件在不同频率、波形和幅度下的响应特性。
多级脉冲医疗成像应用
输出复杂的多级脉冲序列模拟超声成像中的真实发射波形，支持传感器阵列的聚焦控制与图像重建优化。高采样率与波形可编程能力提升图像清晰度与定位精度，适用于高分辨率医学成像系统验证。
生物医学与光声成像
配合高速数字化仪构成完整的光声成像信号链：AWG 驱动激光源与超声换能器，数字化仪以 250 MS/s、16 bit 捕捉微弱光声信号，支持亚微米级细胞成像与实时图像重建。
AI 芯片与高速接口
ADC/DAC、SerDes 与 DDR 测试激励
面向 AI 芯片、Chiplet 与先进封装测试，德思特 AWG 提供多通道同步的高速模拟激励与 PRBS / PAM4 码型输出，用于 ADC/DAC 器件表征、SerDes 链路验证、DDR 压力测试与误码率评估。高采样率与低抖动边沿保证眼图张开度，多通道同步解决了多路并行测试中激励相位不一致的问题。
新型存储
HBM / MRAM 并行测试
在HBM、MRAM等新型存储单元的电特性表征中，德思特 AWG 以多通道同步输出方式并行施加激励脉冲序列，配合高速数字化仪完成写入—读回的全链路验证。窄脉冲与低抖动特性可精确控制写电流窗口，帮助定位存储单元的翻转阈值与耐久性边界。
逻辑门测试
逻辑门参数测试
德思特 AWG 在逻辑门测试中用于产生高速跳变的数字信号，以测量器件的传播延迟、建立保持时间等关键参数。其高采样率与精确时序控制，帮助工程师深入了解数字器件在不同工作条件下的性能边界，提高芯片设计验证效率。
Resources
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PCIe、PXIe、LXI 三种形态我该怎么选？
同一系列三种形态的核心参数一致，选型不会因形态牺牲性能。主要看集成方式：
- 需要嵌入自研机箱、产线设备或与其它 PCIe 板卡紧耦合，选 PCIe（带宽最高，最高 10 GS/s）；
- 已有 PXI 机箱、要与射频仪器共机架统一控制，选 PXIe；
- 实验室研发、需要便携或多机位部署、不需要工控机插槽，选 LXI（支持以太网远程控制，DN6 机架式最高 48 通道）。
需要 8 通道以上的同步输出怎么办？
DDS 模式和传统 AWG 模式是什么关系？
- AWG 模式回放任意自定义波形，灵活度最高；
- DDS 模式从单个固定参考时钟合成正弦波，每个通道可生成多达 16 个独立载波（96xx 系列基于 FPGA 硬件 DDS，指令间隔最短 6.4 ns），适合需要大量多音调信号、且参数需要实时动态切换的场景。
板载缓存多大才够用？
按「最长单次连续播放时长 × 采样率」估算。
例如需要在 1.25 GS/s 下连续输出 100 ms 波形，则需要 125 MSample 缓存。
各系列最大缓存为：65xx 512 MSample、66xx 2 GSample、63xx 8 GSample；96xx 以 DDS 指令计，每 4 通道可容纳 5.12 亿条指令。
若波形本身较短但需长时间循环，可开启 FIFO 模式从 PC 持续流式回放，此时缓存不再是瓶颈，接口带宽才是——这也是 PCIe 形态的优势所在。
现有代码能否直接迁移到新买的卡上？
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