技术文章与方案
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AI热潮下的测试革新:任意波形发生器如何应对复杂信号生成挑战
🗓 2026年6月28日
AI算力爆发倒逼多个行业测试升级。德思特任意波形发生器如何解决相位连续、频率匹配、多通道同步等难题?本文从光电、量子、半导体、射频与无线通信四大领域的真实挑战出发,解析AWG的核心技术与应用、。
8纳秒相位切换、12个量子门协同运行:这台 AWG 如何精准驱动EOM,实现光子量子计算突破
导语 随着量子计算研究从实验室的原理验证迈向可扩展的大规模应用,寻找能够容错且易于扩展的硬台成为全球科研团队的核心目标。在光子量子计算领域,利用连续变量光学簇态进行测量诱导的量子信息处理,因其强大的可扩展性而备
德思特应用 | 假肢控制新突破:高速数字化仪+任意波形发生器精准探测神经信号
导语 目前,通过植入电极的方式控制假肢是最为普遍的技术。然而,这种侵入式方法很可能导致电极的退化或移位。 位于德国斯图加特的多学科联合体 QHMI 研发了一种全新的方法,他们通过量子传感器检测微小且快速的神经信
德思特干货 | 如何运用 AWG数字调制 ,应付复杂通信链路测试?
全数字化趋势下,怎么测试复杂通信链路? 在无线电通信领域,信号正迅速走向全数字化。凭借更高的频谱效率,数字信号已成为满足日益增长的数据需求的核心。随着中心频率、频谱密度和工作频段的不断攀升,通信设备的正经历前所
德思特干货 | 如何使用 TS-AWG 4000脉冲发生器 简化逻辑门参数测试
德思特TS-AWG 4000 系列脉冲模式发生器将脉冲和边沿整形与再现多级编程模式的能力相结合,大大简化了传统繁琐的多级脉冲生成操作流程。无论是标准逻辑门的测试,还是通用数字系统的表征,这套设备都能轻松生成所需
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重磅推荐
任意波形发生器&数字化仪应用白皮书
在量子计算、大物理和医疗成像领域,信号精度决定科研高度。本白皮书汇集清华、MIT、ETH等顶尖机构实战案例,展示德思特AWG与数字化仪如何实现飞秒级脉冲生成与微伏级信号捕获,助您攻克精密实验中的信号生成与采集难题。
热门产品
专为量子通信开发的AWG&DDS信号源
本白皮书介绍德思特专为AOM/AOD控制优化的AWG与DDS信号源,覆盖从625MS/s到10GS/s的多平台产品,重点展示多载波信号如何实现对光镊数量、位置与强度的独立实时调控,是量子科研人员搭建光路控制系统的实用参考。
新兴应用
任意波形发生器DDS模式应用白皮书
本白皮书详解德思特AWG的DDS技术原理,涵盖多音信号生成、频率/幅度斜率控制、触发响应优化等核心能力,并提供雷达脉冲、相控阵、正交调制等实战代码示例,助您在量子控制、通信测试中实现极简编程与极速响应。
视频演示与操作教程
通过直观视频了解任意波形发生器&DDS信号源、脉冲发生器等信号源硬件连接、软件操作与实际测试过程。查看更多视频内容
德思特信号生成与采集实战直播
射频通信、量子科技、光电控制、半导体测试等领域,共同底层需求是精准生成并完整采集信号。射频前端中,任意波形发生器确保波形循环相位连续;雷达跳频场景下,DDS信号源实现纳秒级相位连续切换;NVM与MEMS驱动需脉冲发生器提供皮秒级边沿高压输出;量子传感等研究中,高速数字化仪高采样率捕获GHz级瞬态信号。德思特将于6月17日至9月23日,每月一场,推出《信号生成与采集实战》系列直播,欢迎关注。
德思特高达10GS/s任意波形发生器板卡
63系列开箱
高达10GS/s采样率,DS到3.9G全频段覆盖!德思特Spectrum任意波形发生器卡63系列产品大开箱!PCIe和LXI移动版双选择,满足你的多样需求!
SBench6软件教程01-如何创建项目?
SBench6是功能强大、直观的交互式测量软件,在无需编程的情况下即可开始测量。如何在SBench6软件中创建项目?SBench6软件教程第一期欢迎大家了解!
量子研究DDS信号源解决方案
专为量子研究驱动AOM,AOD,EOM的DDS信号源解决方案,采样率高达10GS/s,带宽高达3.9GHz,是量子与光电测试中信号生成与测试设备的优质选择。
常见技术问题(FAQ)
解答关于AWG&DDS信号源、脉冲发生器选型、产品操作等常见疑问。欢迎联系德思特交流您的技术卡点。
AWG发生器输出通道间的同步精度是多少?
远程控制协议和接口形式是什么?
支持实时计算后输出下一段信号吗?如何缩短两段信号之间的输出间隔?
DDS core最小可调的频率是多少?
什么场景下使用SCAPP选件?
脉冲发生器的两个输出通道是否可以同步
德思特脉冲发生器生成脉冲数是否可调?
德思特任意波形发生器和脉冲发生器上升下降时间是否可调?
多脉冲模式是否能输出正负电压脉冲组合?
高压脉冲发生器的典型应用有哪些?
高压脉冲发生器的典型应用有:
- 脉冲激光二极管驱动器
- 半导体表征测试
- 地面穿透雷达(GPR) 测试
- UWB信号源和通信
- 非易失性存储单元特性测试
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