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在半导体测试领域，ADC（模数转换器）和DAC（数模转换器）芯片的性能直接关系到整个系统的精度与可靠性，而高效、精准的测试方案则是确保芯片质量的关键。然而，面对复杂的静态/动态参数、多样化的测试需求，如何选择合适的测试方法？如何提升测试效率？德思特创新的 ATX测试系统 以其 “All in One” 的高集成度设计，为ADC/DAC芯片测试提供了全新的解决方案。
本次课程，我们将从基础知识、方案解析到实操演示，带您系统掌握ADC/DAC芯片测试的核心要点。
6月19日 14:00
《ADC/DAC芯片测试前沿：德思特ATX系统高效方案与实战攻略》
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✦课程预告✦
✦课程亮点✦
✓ 直击行业痛点：
ADC/DAC测试参数复杂、效率低下？德思特“All in One”ATX测试系统如何实现 效率提升10倍？
✓ 从理论到实战：
系列课程，覆盖基础参数计算→方案解析→真实芯片（AD7671/LTC2641）实操演示，手把手教学！
✓ 独家案例分享：
揭秘德思特ATX系统在头部芯片厂商的高效测试应用场景，助您快速复制成功经验！
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直播现场解答 ADC/DAC测试常见难题，包括待测板设计、动态参数优化等“踩坑”问题！
✦精彩福利✦
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问卷智多星
在每节课程间隙，我们将限时开启【标准知识快问快答】的问卷，最先答对问题的观众，德思特将根据您在小鹅通平台预留的联系方式，直接发放10元现金红包！
