德思特高速动态数字I/O

广泛的PXI动态数字I/O选择

德思特高速动态数字I/O提供高达200 MHz的测试速率和-14 V至+25 V的可编程逻辑电平,具有业内最高性能和最具成本效益的数字测试解决方案。德思特提供最广泛的PXI动态数字仪器选择。 这些模块均具有每个引脚的存储器,并提供控制和仿真动态并行和串行数字总线的能力。 我们的6U和3U产品组合具有出色的功能,包括每引脚 PMU、每引脚定时和高通道数;支持广泛的应用,包括半导体、板级和LRU/系统级测试。

-14 V至+25 V

可编程逻辑电平

高达200 MHz

Date Rate

3U/6U

配套尺寸

高速动态数字I/O

高达200 MHz的测试速率和-14 V至+25 V的可编程逻辑电平

德思特高速动态数字I/O提供高性能数字和模拟测试功能,经济高效的每引脚测试器架构 – 使该卡成为高吞吐量、混合信号组件测试应用的理想选择。每个数字通道都可以单独编程为驱动高、驱动低、感测高、感测低和负载值(具有换向电压电平)。此外,每个通道还提供参数测量单元 (PMU),使用户能够在 DUT(被测设备)上执行并行直流测量。德思特高速动态数字I/O是半导体直流特性测试、数字信号输入输出的最佳选择!

动态数字IO软件

应用广泛

应用

芯片直流特性测试

Chip DC Characterization Test

应用

自动测试设备(ATE)

Automatic Test Equipment

应用

半导体数字信号控制

Semiconductor Digital Signal Control

应用

显示器,打印机,磁盘驱动器测试

Monitor, Printer, Disk Drive Test

应用

ASIC测试

ASIC Testing

应用

高速、双向总线测试/仿真

High-speed, Bidirectional Bus Test

选择最适合您的动态数字I/O

型号

配套

尺寸

矢率量

/MHz

通道数

逻辑电平

每引脚PMU

每引脚

边沿布局

矢量深度

格式化

方向控制

实时

对比

TS-GX5964/

TS-GX5961

6U PXI

50

16/32

每引脚可编程,双电平驱动和传感;

 -14V至+25V

256Kb/通道

动态

每通道

TS-GX5055

6U PXI

50

32

每引脚可编程,双电平驱动和传感;

 -14V至+25V

512Kb/通道


动态

每通道


TS-GX5050

6U PXI


50

32

TTL、PECL、LVDS、

和可编程(0-9 V)


256 K/通道

1 Mb/通道

动态

每字节

TS-GX5296

3U PXI

125


32+4 Aux

每引脚可编程,双电平驱动和传感;

-2V至+7V范围

64 Mb/通道

动态

每通道

TS-GX5295

3U PXI

100

32+4 Aux

每引脚可编程,双电平驱动和传感;

-2V至+7V范围


64 Mb/通道

动态

每通道

TS-GX5293

3U PXI

200

16


LVTTL/CMOS/LVCMOS

LVDS/LVDM/M-LVDS

1.4至3.6,可编程输出电平

128 Mb/通道



动态

每通道


TS-GX5292e/

TS-GX5292

3U PXI


100

32

LVTTL/CMOS/LVCMOS

LVDS/LVDM/M-LVDS

1.4至3.6,可编程输出电平

64 Mb/通道


动态

每通道

TS-GX5291-100

TS-GX5291-50

3U PXI

50/100

32

不能扩展

TTL/LVTTL/CMOS/LVCMOS

1.4至3.6,可编程输出电平


32 Mb/通道

动态

每通道

TS-GX5283

3U PXI

200

32

TTL/LVTTL/CMOS/LVCMOS

LVDS/LVDM/M-LVDS

1.4至3.6,可编程输出电平

128 Mb/通道

静态

每字节


TS-GX5282

3U PXI

100

32

TTL/LVTTL/CMOS/LVCMOS

LVDS/LVDM/M-LVDS

1.4至3.6,可编程输出电平

64 Mb/通道


静态

每字节


PXI 3U

TS-GX5296

每通道定时、可编程逻辑电平和PMU的
动态数字输入/输出PXI板卡

PXI 3U

TS-GX5295

每通道可编程逻辑电平的
动态数字输入/输出和PMU PXI卡

PXI 3U

TS-GX5290系列

动态控制的高速
数字输入/输出 PXI 板卡

PXI 3U

TS-GX5292e

动态控制的高速数字
输入/输出PXI板卡

PXI 3U

TS-GX5280系列

动态控制高速
数字输入/输出PXI板卡

PXI 6U

TS-GX5960系列

高性能50 MHz动态
数字输入/输出PXI子系统

动态数字I/O
PXI 6U

TS-GX5152系列

数字刺激响应PXI板卡

PXI 6U

TS-GX5150系列

动态控制的高速
数字输入/输出PXI板卡

动态数字I/O
PXI 6U

TS-GX5055

带引脚电子元件的动态控制
高压数字输入/输出 PXI 卡

PXI 6U

TS-GX5050

动态控制的高速
数字输入/输出PXI板卡

PXI 6U

TS-GX7017系列

带SCOUT 6U接收器的
GENASYS交换机/数字子系统

PCI

TS-CG5050

动态控制的高速
数字输入/输出PCI卡

获取更多动态数字I/O产品信息

CONTACT US

虹科集团旗下子公司德思特是电子测试测量领域内领先的解决方案供应商。主要业务范围涵盖:汽车电子仿真及测试、射频微波及无线通信测试、无线频谱监测与规划、无线通信(包括智能网联汽车无线通信、轨道交通、卫星通信、室内无线通信)、半导体测试、PNT解决方案、大物理和光电测试等。 我们围绕汽车电子、射频微波、通信、航空航天等行业提供专业可靠的解决方案,现有客户包括华为、德赛西威、蔚来汽车、理想汽车、航天科工集团、清华大学、北京航空航天大学、中电科集团等。我们是中国无线电协会、中国通信企业协会、雷达行业协会、RIS智能超表面技术协会等行业协会的会员,致力与客户共同发展,促进产业升级。

邮箱

hktest@tesight.com

销售

(+86) 17808056341

技术支持

(+86) 15291853139