德思特脉冲发生器 NVM 测试解决方案
专为非易失性存储器测试设计的高性能脉冲发生器，
解决PCM、ReRAM、FeRAM等新型存储技术的测试挑战
方案背景
随着大数据、人工智能和物联网技术的快速发展，非易失性存储器（NVM）作为信息存储的核心部件，其性能要求日益提高。从相变存储器（PCM）到阻变存储器（ReRAM）、铁电存储器（FeRAM）等新型存储技术，都对测试设备提出了前所未有的挑战。
在NVM性能测试中，脉冲发生器是获取三个核心参数的关键实验仪器——最小有效脉冲参数（幅值、宽度）与器件切换最小脉冲宽度。这些参数对任何NVM芯片都至关重要，但传统测试设备面临诸多技术瓶颈
- 电压与脉冲宽度的严苛指标：NVM存储器的读写电压范围通常在±0.5V至±5V，部分类型甚至达20V以上，且脉冲宽度多小于10ns，对测试设备的精度和响应速度要求极高。
- 脉冲幅度保真度要求高：NVM开关具有非线性特性，对电压脉冲幅度极为敏感，需要保证脉冲幅度的准确度，同时避免过冲与振铃现象。
- 多脉冲序列需求复杂：ReRAM器件测试需要脉冲上扫/下扫廓线并同步测量电流，FeRAM测试则要求PUND（正、上、负、下）四脉冲序列。
- 小电流同步测量挑战：小尺寸NVM器件的电流仅为µA级别，需要同步进行超快的电流-电压（IV）测量，对设备灵敏度与同步性要求极高。
脉冲发生器在NVM测试中的核心价值
德思特TS-PG1000系列脉冲发生器为NVM测试提供了完整、精准、高效的解决方案，不仅解决了当前测试技术面临的瓶颈问题，更为未来存储器技术的发展奠定了坚实的测试基础。
PCM测试原理
以PCM相变存储器测试为例，展现其技术优势。PCM存储单元基于钙钛矿材料从非晶相到晶体相的变化。材料处于非晶相时电阻较高，处于晶体相时电阻较低。对位进行编程或擦除时，需要改变材料相位：大而低的电压脉冲可将材料从非晶态变为晶体态（SET操作），短而高的电压脉冲可将材料从晶体态变为非晶态（RESET操作）。
PCM相变存储器基于材料相变实现数据存储，需要精确的脉冲控制
德思特TS-PG1000核心技术特点
高压短脉冲能力
支持5Vpp输出，脉冲宽度可短至<300ps，最高800MHz脉冲频率，满足PCM快速相变（SET/RESET）的严苛要求，解决传统信号源幅值不足、脉冲过长的问题。
精准直流偏移功能
±2.5V直流偏移范围，可补偿测试系统中的接地噪声或器件偏压，支持生成非对称脉冲（如+3V/-1V），优化ReRAM等器件的导电细丝形成与断裂过程。
超快边沿时间技术
70ps超快边沿时间，避免因边沿缓慢导致PCM未完全相变，显著降低过渡期能耗，抑制热扩散和相邻单元干扰，提升信号完整性。
多脉冲序列支持
支持复杂的PUND四脉冲序列，满足FeRAM测试需求，可编程脉冲上扫/下扫廓线，适应ReRAM器件特性表征。
德思特脉冲发生器解决测试中的关键问题
精准的脉冲参数控制
问题：传统设备无法同时满足高压输出与窄脉宽要求。
解决方案：TS-PG1000提供5Vpp输出结合300ps最小脉宽，完美匹配PCM SET/RESET操作需求。
技术优势：10ps脉宽分辨率，确保脉冲宽度的精确控制。
信号完整性与保真度
问题：过冲与振铃现象影响测试准确性。
解决方案：70ps超快边沿结合<5%过冲控制，确保波形纯净无畸变。
技术优势：<1mVrms低噪声输出，保障小电流测量的准确性。
复杂测试序列支持
问题：多脉冲序列测试需求难以满足。
解决方案：4通道±10ps同步技术，支持PUND等复杂脉冲序列。
技术优势：灵活的脉冲编程能力，适应不同类型NVM测试需求。
小电流测量同步性
问题：µA级电流测量与脉冲施加的同步难题。
解决方案：精密触发同步机制，确保IV测量与脉冲施加的时序一致性。
技术优势：多通道同步抖动<±10ps，保证测试数据的准确性。
方案价值
测试精度突破
实现NVM器件最小有效脉冲参数的精确测量，提供可靠的器件切换最小脉冲宽度数据，为存储器设计和工艺优化提供准确实验依据。
测试效率提升
多通道同步测试能力，大幅缩短测试时间，自动化测试序列减少人工干预，支持批量测试提高研发效率。
研发周期缩短
快速准确的测试数据加速产品开发进程，早期发现问题减少后期修改成本，提升产品上市速度增强市场竞争力。
质量控制保障
提供可靠的性能评估标准，确保产品一致性和可靠性，降低产品失效风险。
相关产品
TS-PG1000系列
70 ps @ 5Vpp | 多脉冲模式
德思特ps级脉冲信号发生器提供多达 4 个通道，每个通道提供单脉冲、双脉冲、三脉冲或四脉冲，每个脉冲与触发信号的周期、宽度和延迟无关。可以生成具有不同宽度、周期和幅度的脉冲，可以非常快速、轻松地设置单个脉冲，使仪器等待外部触发或以连续方式生成脉冲，非常适合大物理应用中的读数测试、激光驱动器、速调管控制同步等。
技术服务
德思特作为电子测试测量领域的领先解决方案提供商，我们提供全方位的服务，包括培训服务，项目咨询与额外技术支持服务，检测、认证、校准服务，以及集成和二次开发服务。无论您的项目需求复杂与否，德思特都承诺以最具成本效益的方式助力您实现最高生产力。我们的专业服务体系旨在解决您的每一个挑战，驱动您的业务迈向卓越。
