为什么选择德思特任意波形发生器AWG
德思特AWG是您所有最复杂测试和前沿应用的理想伙伴。
德思特任意波形发生器(AWG)可以从其内部存储器中回放已加载的波形，或者通过FIFO模式从PC系统回放。数字信号被转换为具有指定偏移量和幅值的模拟输出信号。任何波形都可以被回放，无论是之前获取的波形，还是通过计算或模拟生成的波形。通过内部同步，AWG卡可以与多个A/D卡同步运行时钟和触发。
- 行业领先的数据吞吐能力：PCIe Gen3/4接口支持12.8GB/s读取和10.0GB/s写入带宽，确保高速信号处理
- 灵活的多功能接口配置：配备SMA连接器和4个可编程多功能I/O接口，支持模拟/数字信号混合处理
- 高精度时钟同步：专业级时钟输入/输出接口，时间精度优于50ps
- 智能信号嵌入技术：支持在模拟数据流中同步嵌入数字信号，实现复杂波形生成
- 跨代兼容设计：兼容PCIe Gen1-Gen4标准，既保障现有系统兼容性又保留性能升级空间
选择满足您需求的任意波形发生器
德思特提供多种型号的任意波形发生器，各系列包含PCIe/PXIe/LXI三种接口形式产品，
满足你对各项参数、各行业应用的需求。
PCIe板式AWG
10 GS/s
最大采样率
8 GS
最大缓存深度
PCIe x16 Gen 3
接口类型
- 超高性能信号输出：
支持最高10 GS/s采样率和16 bit高分辨率，确保高精度、高带宽信号的生成，满足严苛的测试需求。 - 灵活的多通道扩展能力：
单卡提供最多8个通道，并可通过星形集线器同步技术扩展至64个同步通道，适用于大规模多通道测试场景。 - 模块化系统集成优势：
基于PCIe总线架构，可轻松集成到自动化测试系统，适用于实验室研发或产线测试，提供高密度、低延迟的信号生成方案。
PXIe板式AWG
1.25 GS/s
最大采样率
8 GS
最大缓存深度
PXIe
接口类型
- 超高性能信号输出：
支持最高1.25 GS/s采样率和16 bit高分辨率，确保高精度、高带宽信号的生成，满足严苛的测试需求。 - 灵活的多通道扩展能力：
单卡提供最多4个通道，并可通过星形集线器同步技术扩展至64个同步通道，适用于大规模多通道测试场景。 - 模块化系统集成优势：
基于PXIe总线架构，可轻松集成到自动化测试系统，适用于实验室研发或产线测试，提供高密度、低延迟的信号生成方案。
LXI台式AWG
10 GS/s
最大采样率
8 GS
最大缓存深度
LXI
接口类型
- 便携灵活的多通道扩展：
独立台式设计，基于以太网/LXI 通信，支持 2~48 通道灵活配置，满足从简单测试到复杂多通道实验的需求。 - 专为科研优化，适配量子研究等高端应用：
特别适用于物理实验、量子研究等需要高精度多通道同步的场景，确保信号稳定性和可重复性。 - 开放易用的软件生态：
提供免费上位机软件Sbench 6，支持直观的波形编辑与配置；
开放二次开发包（SDK），可集成到LabVIEW、Python、C++等平台，实现自动化控制和复杂波形仿真。
应用广泛
德思特任意波形发生器赋能量子通信、光电测试、半导体等多行业复杂信号模拟
量子&大物理
量子计算 | 量子传感器 | 量子密钥分发 | 读出测试
量子密钥分发应用
在QKD系统中，德思特AWG的多通道同步输出和任意波形调制能力被用于生成偏振、相位或时间编码所需的复杂调制信号。它可灵活配置调制格式（如 BB84、Decoy 等），实现高稳定性与高保真度的光学信号控制，解决了传统激光驱动器在精度、速率和相干性方面的限制，有效提升了密钥分发速率与安全性。
大物理应用读出测试
在量子传感领域，德思特AWG 利用其高速采样率和窄脉冲生成能力，能够输出高达 5Vpp 的电信号脉冲和窄至 130ps 的高斯光脉冲，用于精准驱动电光调制器与操控 NV 中心等量子缺陷结构。这解决了传统信号源无法满足皮秒级时间控制和高频相位调制的难题，显著提升了磁场探测灵敏度与实验重复性。
光电
AOM/EOM驱动 | 控制脉冲激光器 | 量子光学
AOM/EOM驱动
德思特AWG具备高速、任意波形输出能力，可精确生成用于驱动电光调制器（EOM）的微波或射频信号，实现光波的强度、相位或偏振调制。该功能解决了传统信号源频率带宽不足、波形灵活性差的问题，使调制深度更高、光学系统响应更稳定，广泛应用于高速光通信和量子光学实验中。
控制脉冲激光器
利用德思特AWG精确控制的电信号驱动激光器，可以产生皮秒甚至更短的光脉冲。其窄脉冲宽度和高重复精度，解决了传统触发器或低速函数发生器在时间分辨率和波形一致性方面的瓶颈，显著提升了光谱实验的时间分辨率，适用于荧光寿命测量、时间相关单光子计数等精密光学测试。
量子光学
在NV色心实验中，德思特AWG被用于精确控制微波脉冲序列以操控NV中心的量子态，同时输出同步触发信号配合激光与探测系统，进行磁共振与荧光读出。其多通道同步与皮秒级时序控制能力解决了量子态操控中对精度和稳定性的极高要求，有效提升了磁场测量灵敏度与量子传感成像效果。
半导体
MEMS传感器测试和验证 | 多级脉冲医疗成像 | 逻辑门参数测试
MEMS 传感器测试和验证
德思特AWG可生成高速、精确控制的超声激励信号，驱动 MEMS 超声传感器进行动态响应测试。该功能克服了传统测试源灵活性和频率范围受限的问题，有助于验证器件在不同频率、波形和幅度下的响应特性，实现更全面的性能评估。
多级脉冲医疗成像应用
通过德思特AWG输出复杂的多级脉冲序列，可模拟超声成像中的真实发射波形，支持对传感器阵列的聚焦控制与图像重建优化。其高采样率与波形可编程能力，提升了图像清晰度与定位精度，适用于高分辨率医学成像系统验证。
逻辑门参数测试
德思特AWG在逻辑门测试中用于产生高速跳变的数字信号，以测量器件的传播延迟、建立保持时间等关键参数。其高采样率与精确时序控制，帮助工程师深入了解数字器件在不同工作条件下的性能边界，提高芯片设计验证效率。
资源中心
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