德思特干货 | 解锁 ADC 真实性能：斜坡测试(Ramp Test)硬件配置关键指南

上期聚焦DAC输出特性，探讨了sinc衰减与补偿方案（数字滤波 vs. 模拟滤波）。信号链的完整性不仅在于“发送”，更在于精准“接收”。

本期，德思特将带您深入ADC芯片的“基本功”测试——静态参数。 我们将以斜坡测试（Ramp Test） 为核心，手把手详解其工程文件的配置要点，助您掌握评估ADC线性度（INL/DNL）等关键指标的实用方法。

一、确认测试适用性

在进行本测试之前，首先需要确认我们的待测 ADC 是否适用于斜坡测试。

1.适用场景

斜坡测试特别适用于中低速采样率且精度要求较高的 ADC。此测试旨在精确评估 ADC 的静态转换性能，涵盖的关键参数包括：

• 增益误差（Gain Error）
• 失调误差（Offset Error）
• 积分非线性（INL）
• 微分非线性（DNL）
• 总未调整误差（TUE）

2.核心原理

斜坡测试通过精密时钟控制系统调控测试时序，实现如下流程：

•  信号发生器（AWG）输出一个已知电压值
• ADC 对该电压进行转换
• 测试系统记录其数字输出
• 循环上述过程，使测试电压遍历整个 ADC 输入范围

优势：

• 每个 ADC 输出编码与 AWG 实际输出电压一一对应
• 建立映射关系后，可绘制出 ADC 的实际转换曲线
• 与理想曲线对比，直观、精确地计算各项关键性能参数

3.斜坡测试 vs 直方图测试

为帮助理解两种主流静态测试方法的区别，我们整理了以下对比表格：

4.为何选择斜坡测试？

尽管过去因控制复杂、计算量大而被部分工程师回避，但随着 德思特ADC/DAC测试系统的推出，这些问题已被解决：

• 所有控制步骤和算法高度集成
• 用户实现一键自动化操作
• 无需关注底层技术细节
• 提升测试效率，减少采样点数量

本文选择斜坡测试作为示例，正是为了展示 德思特ADC/DAC测试系统 如何简化复杂测试流程，提升工程效率。

二、硬件准备

“良好的开端是成功的一半。”
然而传统硬件准备过程繁琐、易错，涉及：

• 参数预估
• 仪器选型
• 控制软件编程调试
• 载板设计与制作

1.仪器部分准备

借助 德思特ADC/DAC测试系统，这一切变得异常简单：

• 用户只需根据待测 ADC 特点选择功能模块
• 专业团队负责整体交付
• 收到即为完整可用的测试系统

2.待测部分准备

当仪器就绪后，工程师只需专注于测试芯片载板设计。得益于 德思特ADC/DAC测试系统集成：

• 数字 IO
• 供电电源
• 高精度参考电压源

载板设计已被极大简化，核心任务仅剩一项：

将待测芯片引脚连接至标准连接器，以便与系统线缆对接

完整原理图及相关资料，请联系德思特获取

系统扩展性设计亮点：

• 无需额外逻辑控制芯片驱动继电器
• ADC/DAC测试系统 DIO模块 原生提供 8 个静态数字输出通道
• 结合 MOS 管即可轻松驱动继电器

这些通道还可直接控制 UUT 的功能设置引脚，灵活切换工作状态

END

掌握ADC静态参数测试的核心——斜坡测试（Ramp Test）的硬件配置要点，是评估INL/DNL等关键性能指标的第一步。

本期我们手把手带您梳理了测试适用性判断与硬件配置的关键细节，为您搭建起精准测试的“地基”。

下期预告： 硬件就绪，软件赋能！下一期，我们将深入斜坡测试的软件配置实战，带您一步步解析工程文件的设置秘诀，让测试数据精准呈现。如何高效分析结果、优化流程？敬请锁定德思特测试测量！

行动建议： 请保存好本期配置要点，提前准备好您的测试环境，我们下期软件篇见！