德思特活动 | 德思特多套解决方案亮相 EDI CON ，演讲内容限时领取！

4月23日-24日， EDI CON 中国2025电子设计创新大会于北京国家会议中心顺利举行！德思特在K4展位展出了高速信号采集解决方案、信号生成解决方案、EMC测试解决方案、半导体测试解决方案等多套解决方案，技术工程师胡姝蕾发布了以《解锁5G/6G时代的测试测量解决方案》为主题的精彩演讲。

本期文章带您快速回顾德思特解决方案及演讲内容，更有限时福利，可扫码下载现场演讲PPT！

德思特高质量解决方案

德思特高速信号采集解决方案、信号生成解决方案、经济便携的高达30GHz矢量网络分析仪等解决方案吸引众多观众驻足体验。

主题演讲：解锁5G/6G时代的测试测量解决方案

5G/6G测试：复杂性与核心挑战

5G/6G通信网络性能测试方案

弱网测试方案

通过可编程衰减矩阵（支持0~120dB衰减、2μs极速切换），精准模拟地下室、高速移动等复杂场景，提升车载T-BOX、智能终端在弱信号环境下的通信稳定性。

蜂窝切换测试

软/硬切换模拟技术（支持512通道），优化基站切换时延与业务中断时间，显著提升网络切换效率。

此外还有大规模MIMO天线参数测试及RIS测试方案，了解更多演讲内容及方案详情，欢迎大家扫描下方二维码下载演讲内容！限时福利，先到先得！